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晶圆级老化测试：Chamber 试验箱适配说明
41冠亚恒温小编说明 Chamber 试验箱对晶圆级老化测试的适配性。晶圆级老化在划片前对整片晶圆进行高温偏置老化，降低后续封装与测试成本，提升良率与效率。
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冠亚恒温小编说明 Chamber 试验箱对晶圆级老化测试的适配性。晶圆级老化在划片前对整片晶圆进行高温偏置老化，降低后续封装与测试成本，提升良率与效率。
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冠亚恒温小编为大家说明 Chamber 试验箱的线性升降温速率性能。芯片老化测试常需模拟快速温变过程，设备通过优化制冷与加热系统，实现线性升降温速率控制，适配不同测试场景的温变需求。
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