从晶圆级到成品测试：变频控温Chiller在半导体多场景温控中的深度应用

2026年5月11日 9

FLTZ系列变频控温Chiller可应用于多种半导体测试相关场景，例如：器件低温电性测试、高温工作寿命试验、温度循环测试、晶圆级可靠性验证等。其宽温域与较高控温精度能够适配不同测试机的温控接口需求。通过外循环泵对接测试台或被测件，FLTZ变频控温Chiller可提供持...

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