新闻中心
News Centre

半导体老化测试温控箱的准确温度控制与器件可靠性评估技术研究

2025年8月14日 61

半导体器件的老化测试是评估其长期可靠性的关键环节，而温度作为影响器件老化进程的核心因素之一，其控制精度直接决定测试数据的时效性。半导体老化测试温控箱通过构建稳定可控的温度环境，为模拟器件在长期使用中的温度应力提供了解决方案，其准确的控温能力不仅确...

查看全文