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半导体温度循环测试箱温度调控机制与芯片可靠性验证的协同关系

2025年7月25日 88

半导体温度循环测试箱是验证芯片在温度交替变化环境下可靠性的关键设备之一，通过模拟苛刻温度变化场景，加速芯片内部材料疲劳与结构应力释放，从而评估其长期使用稳定性

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