冠亚恒温
产品中心
Product Centre
左右多层试验箱
产品简介
左右多层试验箱提供温度范围-80℃~+150℃宽温度范围控温，空载温度均匀度±1℃，温度精度±0.1℃，满足多样化场景需求。
两箱冲击试验箱
产品简介
两箱式冷热冲击试验箱在进行高低温冲击试验时测试篮是移动的，主要是靠测试篮在高温区和低温区中上下移动来完成高低温冲击转换，两箱式比三箱式的冲击回复时间更短。
恒温恒湿试验箱
产品简介
本系列试验箱可以模拟各种温湿度环境，适用于对产品进行高低温试验，湿热试验等。本试验箱具有极宽的温湿度范围和极高的控制精度。可以满足国家标准GB及IEC相关测试标准。可程式恒温恒湿试验箱用于试验各种材料耐热、耐寒、耐干、耐湿性能。适合电子、电器、通讯、仪表、车辆、塑胶制品、金属、食品、化学、建材、医疗、航天等制品检测质量之用。
UC/LY系列
产品简介
- 采⽤高温降温⼯艺，实现300℃~50℃降温；
- 配备加热冷却⼀体容器，换热⾯积大，升温和降温速率很快，导热油需求量也⽐较小；
- 可实现连续升降温；
- 循环密闭系统，⾼温没有油雾挥发，导热油不会被氧化和褐化；
- 带有矫正内循环温度探头PT100功能；
- 整个系统的液体循环是密闭的，系统带有膨胀容器，膨胀容器和液体循环是绝热的，不参与液体循环，只是机械连接；
UST系列
产品简介
- 采⽤高温降温⼯艺，实现300℃~50℃降温；
- 配备加热冷却⼀体容器，换热⾯积⼤，升温和降温速率很快，导热油需求量也⽐较⼩；
- 可实现连续升降温；
- 循环密闭系统，⾼温没有油雾挥发，导热油不会被氧化和褐化；
- 带有矫正内循环温度探头PT100功能；
- 整个系统的液体循环是密闭的，系统带有膨胀容器，膨胀容器和液体循环是绝热的，不参与液体循环，只是机械连接；
KRYZ变频系列
产品简介
采⽤变频涡旋压缩机，根据实际需求⾃动调整运转速度，提供所需的制冷能⼒，与传统的定频压缩机相⽐，显著降低能源消耗，提⾼能效性能。
快速温变控温卡盘Chuck
产品简介
探针台是半导体晶圆与芯片电学性能测试的核心装备，其温度稳定性直接决定测试精度与设备可靠性。
本方案为探针台提供一体化高精度温控解决方案，由精密液冷机（CHILLER）、温控卡盘（CHUCK）、干燥单元（DRYER）及电气控制柜组成完整闭环系统。通过主动热控技术（Active Thermal Control），实现对晶圆、探针台主体及关键部件的精准温度调控与高效散热，有效抑制测试过程中的温度漂移，保证测试数据一致性与设备长期稳定运行。
整套系统控温精度高、响应速度快、运行稳定可靠，可满足半导体晶圆检测、可靠性测试、高端探针台配套等严苛场景需求，全面提升测试效率与产品良率。
超低温直冷机
产品简介
将制冷系统中的制冷剂直接输出蒸发进⼊⽬标控制元件（换热器）换热，从⽽使⽬标控制对象降温。具备换热能力相对于流体（⽓体）输送⼊换热器换热能⼒更⾼⼀般在5倍以上，这样特别适⽤于换热器换热⾯积⼩，但是换热量⼤的运⽤场所。
也可以如⽓体捕集运⽤，将制冷剂直接通⼊捕集器蒸发，通过捕集器表⾯冷凝效应，迅速捕集空间中的⽓体。
AET系列气体快速温变测试机
产品简介
压缩空⽓进⼊⽓体快速温变测试机，内置有⼲燥器，预先把⽓体⼲燥到露点温度-70度以下，进⾏制冷加热控温输出稳定流量压⼒恒温的⽓体，对⽬标对象进⾏控温（如各类控温卡盘、腔体环境、热承板、料梭、腔体、电⼦元件等），可根据远程卡盘上的温度传感器进⾏⼯艺过程控温，⾃动调节输出⽓体的温度。
SUNDI系列 制冷加热控温系统
产品简介
冠亚恒温制冷加热动态控温系统控温精度高、温度控制智能，温度控制范围宽，从-150℃ ~ +350℃一应俱全，适合多数企业恒温控制需求。控温精度可达±0.3℃，制冷功率从0.5kW到1200kW均可提供相应产品。
典型应用：高压反应釜冷热源动态恒温控制；双层玻璃反应釜冷热源动态恒温控制；双层反应釜冷热源动态恒温控制；微通道反应器冷热源恒温控制；小型恒温控制系统、蒸馏系统控温；材料低温高温老化测试；组合化学冷源热源恒温控制；半导体设备冷却加热；真空室制冷加热恒温控制。