半导体芯片全温测试接触式设备综合介绍

2026年6月26日 3

KSD/KSDR 接触式高低温测试机覆盖 - 75℃~+200℃完整温区，集成高速升降温、Plunger 直测、干气防凝露、可编程工艺等功能，适配芯片研发、失效分析、车规冲击、晶圆循环全流程全温测试，本文综合讲解设备结构、核心功能、行业适配场景。

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