高负载芯片老化：GD 系列试验箱性能介绍

2026年5月19日 4

冠亚恒温小编介绍 GD 系列试验箱在高负载芯片老化场景的性能特点。高负载芯片（大功率处理器、电源管理芯片、功率模块等）工作发热大，老化测试需设备具备强散热、高负载容量与稳定控温能力。

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