半导体测试环境降温：LQ 系列气体制冷设备说明

2026年4月28日 4

半导体测试环境的温度稳定性，直接影响测试数据的准确性与可靠性，尤其是芯片、元器件测试过程中，需将测试环境温度控制在zhi定区间，冠亚研发的LQ系列气体制冷设备，专为半导体测试环境降温设计，可快速降低测试环境温度，维持温度稳定

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